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儀器信息網(wǎng)訊 2月25日，日立高新技術(shù)公司（TSE：8036）的全資子公司日立分析儀器（HitachiHigh-Tech Analytical Science）推出新型FT160XRF光譜儀，該分析儀提供三種基座配置選擇方案用于納米級鍍層分析。日立分析儀器主要致力于分析和測量儀器的制造和銷售。

FT160 XRF鍍層分析儀

隨著新型FT160系列在日本率先推出，日立分析儀器目前已在中國、北美、歐洲、中東和非洲銷售FT160系列鍍層分析儀并提供相關(guān)服務(wù)。

日立推出的該款最新一代鍍層分析儀旨在應(yīng)對測量小型部件上的超薄鍍層所帶來的挑戰(zhàn)。FT160是一種臺式EDXRF（能量色散x射線熒光）分析儀，配有強大的軟件和硬件，能實現(xiàn)高樣品處理量，且任何操作員均能獲取高質(zhì)量結(jié)果。由于FT160系列專為在生產(chǎn)質(zhì)量控制中發(fā)揮關(guān)鍵作用而設(shè)計，因此其可在半導(dǎo)體、電路板和電子元件市場中被廣泛應(yīng)用。

▋測量納米級的鍍層

FT160配置高端部件，可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束，從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳統(tǒng)準(zhǔn)直器可測量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器（SDD）充分利用光學(xué)系統(tǒng)測量微電子和半導(dǎo)體上的納米級鍍層。高精度樣品臺和具備數(shù)字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣件，以提高樣品處理量。

日立分析儀器產(chǎn)品經(jīng)理Matt Kreiner表示：“在之前產(chǎn)品的成功基礎(chǔ)上所推出的FT160能提供重新設(shè)計的照明布置以提高零件的可視性并便于定位，且新的配置選擇方案可確保特定應(yīng)用的最佳性能并為繁忙的測試實驗室提供新的緊湊型基座配置要素。該產(chǎn)品系列硬件和分析能力的不斷發(fā)展使我們的客戶更容易在快速發(fā)展的微電子領(lǐng)域控制生產(chǎn)。FT160是對我們鍍層儀器綜合系列的補充，這歸功于日立45多年的XRF鍍層分析儀的開發(fā)經(jīng)驗。”

FT160系列現(xiàn)已允許訂購。可通過點擊文末日立分析儀器廠商展位聯(lián)系日立分析儀器。

▋關(guān)于日立分析儀器

日立分析儀器是日立高新技術(shù)集團(tuán)于2017年7月創(chuàng)立的全球性公司。其總部位于英國牛津，其在芬蘭、德國和中國從事研發(fā)和裝配業(yè)務(wù)并在全球多個國家開展銷售和支持業(yè)務(wù)。其產(chǎn)品系列包括：

□ FT160、FT110和X-Strata微焦斑XRF光譜儀，能測量單層和多層鍍層（包括合金層）的鍍層厚度，可成為質(zhì)量控制或過程控制程序以及研究實驗室的專用分析儀。

□ EA1000、EA6000和HM1000 RoHS（有害物質(zhì)限制指令）分析儀適用于RoHS 1和RoHS 2測試，使用便捷，能夠很好適應(yīng)限制指令的變化。

□ DSC7000X、DSC7020、NEXT STA、STA7000、TMA7100、TMA7300和DMA7100系列熱分析儀已經(jīng)過優(yōu)化，可檢測最小反應(yīng)并使其可視化，同時具有堅固耐用、可靠且易于使用的特點。

□ EA8000 x射線顆粒污染物分析儀用于鋰離子電池生產(chǎn)中快速有效的質(zhì)量控制。

□ Lab-X5000和X-Supreme8000臺式XRF光譜儀可為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多種行業(yè)提供質(zhì)量保證和過程控制服務(wù)。

□ OE750、PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER和TEST-MASTER系列分析儀被世界各地的行業(yè)用于進(jìn)行快速和精確的金屬分析。該儀器采用直讀光譜分析技術(shù)，可測定所有重要元素，能提供低檢測限和高精度，包括鋼中的碳和幾乎所有金屬中所有技術(shù)相關(guān)的主要和痕量元素。

□ X-MET8000手持式光譜儀被成千上萬的企業(yè)用于通過XRF精密技術(shù)進(jìn)行簡單、快速和無損的合金分析、廢金屬分揀和金屬牌號篩選。

□ 采用LIBS激光技術(shù)的Vulcan手持式光譜儀只需一秒即可識別金屬合金，是世界上分析速度最快的分析儀之一。這對需要處理大量金屬的企業(yè)而言非常有利。